ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.

сфера применения: В этом документе описана процедура количественной характеристики кончика зонда атомно-силового микроскопа (АСМ) и восстановления изображений топографии АСМ, расширенных конечным размером зонда. Трехмерная форма вершины зонда извлекается путем реконструкции изображения с использованием подходящих эталонных материалов. Этот документ применим к реконструкции изображений топографии поверхностей твердых материалов, полученных методом АСМ.

ISO 23729:2022 Ссылочный документ

ISO 11775 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение констант нормальной пружины кантилевера.
ISO 11952 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Определение геометрических величин с помощью СЗМ. Калибровка измерительных систем.
ISO 18115-2 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.

2022 ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.