Настоящий стандарт определяет метод измерения локальной толщины металлических покрытий, оксидных слоев, фарфоровых или эмалевых покрытий путем исследования поперечного сечения с использованием оптического микроскопа. При использовании оптического микроскопа метод может при благоприятных условиях обеспечить абсолютную точность измерения 0,8 мкм. Это будет иметь решающее значение для того, пригоден ли метод для измерения толщины слоя тонких покрытий.