LST EN IEC 60749-41:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытаний на надежность устройств энергонезависимой памяти (IEC 60749-41:2020)
2020LST EN IEC 60749-41:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 41. Стандартные методы испытаний на надежность устройств энергонезависимой памяти (IEC 60749-41:2020)