ISO 10110-5:2015
Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 5. Допуски формы поверхности.

Стандартный №

ISO 10110-5:2015

Дата публикации

2015

Разместил

International Organization for Standardization (ISO)

Последняя версия

ISO 10110-5:2015

сфера применения

Настоящий международный стандарт определяет представление требований к конструкции и функциональности оптических элементов и систем на технических чертежах, используемых для производства и контроля. Эта часть ISO 10110 определяет правила для указания допуска на отклонение формы поверхности. П р и м е ч а н и е — Терминология интерферометрии, использующая единицу «расстояния между полосами», широко используется для определения допусков. Однако в последнее время все большее значение приобретает использование неинтерферометрических методов тестирования оптических деталей. Поэтому, в отличие от более ранних версий этой части ISO 10110, нанометры теперь должны быть предпочтительной и стандартной единицей измерения отклонений формы поверхности. Использование интервалов между полосами по-прежнему разрешено при условии, что базовая длина волны явно указана. Настоящая часть ISO 10110 применяется к поверхностям плоской, сферической, асферической, круглой и некруглой цилиндрической и торической формы, а также к поверхностям другой несферической формы, таким как обычно описываемые поверхности. Он не применяется к дифракционным поверхностям, поверхностям Френеля и микрооптическим поверхностям.

ISO 10110-5:2015 Ссылочный документ

• ISO 10110-10:2004 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 10. Таблица данных оптических элементов и склеенных сборок.
• ISO 10110-11:1996 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 11. Недопускаемые данные.
• ISO 10110-12:2007 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 12. Асферические поверхности.
• ISO 10110-14:2007 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 14. Допуск на деформацию волнового фронта.
• ISO 10110-19:2015 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 19. Общее описание поверхностей и деталей.
• ISO 10110-1:2006 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 1. Общие сведения.
• ISO 14999-4:2015 Оптика и фотоника. Интерферометрические измерения оптических элементов и оптических систем. Часть 4. Интерпретация и оценка допусков, указанных в ISO 10110.
• ISO 7944:1998 Оптика и оптические приборы. Эталонные длины волн
• ISO/TR 14999-2:2005 Оптика и фотоника. Интерферометрические измерения оптических элементов и оптических систем. Часть 2. Методы измерения и оценки.

ISO 10110-5:2015 История

• 2015 ISO 10110-5:2015 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 5. Допуски формы поверхности.
• 2007 ISO 10110-5:2007 Оптика и фотоника. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 5. Допуски формы поверхности.
• 1996 ISO 10110-5:1996/Cor 1:1996 Оптика и оптические приборы. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 5. Допуски формы поверхности; Техническое исправление 1
• 1996 ISO 10110-5:1996 Оптика и оптические приборы. Подготовка чертежей оптических элементов и систем. Часть 5. Допуски формы поверхности.