JIS K 0155:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в пролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
2018JIS K 0155:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в пролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.