ISO 17915:2018 Оптика и фотоника - Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования

сфера применения: В этом документе описаны методы измерения зависимости длин волн генерации от температуры и инжектируемого тока, а также ширины спектральной линии генерации применительно к полупроводниковым лазерам для сенсорных приложений. Этот документ применим ко всем типам полупроводниковых лазеров, таких как лазеры с торцевым излучением и лазеры с поверхностным излучением с вертикальным резонатором, лазеры с объемными и (напряженными) квантовыми ямами, а также лазеры с квантовыми каскадами, используемые для оптического зондирования, например, в промышленности, медицине. и сельскохозяйственные поля.

ISO 17915:2018 Ссылочный документ

IEC 60747-5-1:1997 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-1. Оптоэлектронные устройства. Общие сведения.
IEC 60747-5-2:1997 Дискретные полупроводниковые приборы и интегральные схемы. Часть 5-2. Оптоэлектронные устройства. Основные номинальные характеристики и характеристики.
IEC 62007-1:2015 Полупроводниковые оптоэлектронные устройства для применения в волоконно-оптических системах. Часть 1. Шаблон спецификации с указанием основных номиналов и характеристик.
ISO 11145:2016 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Словарь и символы.
ISO 13695:2004 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Методы испытаний спектральных характеристик лазеров.

2018 ISO 17915:2018 Оптика и фотоника - Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования