ISO 19622:2018
Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения пьезоэлектрической константы d33 пьезоэлектрической керамики прямым квазистатическим методом.
- Стандартный №
- ISO 19622:2018
- Дата публикации
- 2018
- Разместил
- International Organization for Standardization (ISO)
- Последняя версия
- ISO 19622:2018
- сфера применения
- В этом документе указано, как измерить пьезоэлектрическую постоянную d33 пьезоэлектрической керамики прямым квазистатическим методом (метрический метод d33, метод Берлинкура).
ISO 19622:2018 Ссылочный документ
- EN 50324-1:2002 Пьезоэлектрические свойства керамических материалов и компонентов. Часть 1. Термины и определения.
- EN 50324-2:2002 Пьезоэлектрические свойства керамических материалов и компонентов. Часть 2. Методы измерения. Малая мощность.
- IEC 60483:1976 Руководство по динамическим измерениям пьезоэлектрической керамики с высокой электромеханической связью
- ISO 20507:2014 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, современная техническая керамика) - Словарь
ISO 19622:2018 История
- 2018 ISO 19622:2018 Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, усовершенствованная техническая керамика) - Метод определения пьезоэлектрической константы d33 пьезоэлектрической керамики прямым квазистатическим методом.
