DIN IEC/TS 62132-9:2015 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 9. Измерение устойчивости к излучению. Метод поверхностного сканирования (IEC/TS 62132-9:2014). - Стандарты и спецификации PDF

DIN IEC/TS 62132-9:2015
Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 9. Измерение устойчивости к излучению. Метод поверхностного сканирования (IEC/TS 62132-9:2014).

Стандартный №
DIN IEC/TS 62132-9:2015
Дата публикации
2015
Разместил
German Institute for Standardization
Последняя версия
DIN IEC/TS 62132-9:2015
заменять
DIN IEC/TS 62132-9:2012

DIN IEC/TS 62132-9:2015 Ссылочный документ

  • DIN EN 62132-1:2006 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости, от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 1. Общие условия и определения (IEC 62132-1:2006); Немецкая версия EN 62132-1:2006.
  • DIN IEC/TS 61967-3:2015 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 3. Измерение излучаемого излучения. Метод поверхностного сканирования (IEC/TS 61967-3:2014).
  • IEC 60050-101:1998 Международный электротехнический словарь. Часть 101: Математика
  • IEC 60050-102:2007 Международный электротехнический словарь. Часть 102: Математика. Общие понятия и линейная алгебра.
  • IEC 60050-103:2009 Международный электротехнический словарь. Часть 103: Математика. Функции
  • IEC 60050-111:1996 Международный электротехнический словарь - Глава 111: Физика и химия
  • IEC 60050-112:2010 Международный словарь электротехники - Часть 112: Величие и единство (Издание 1.0)
  • IEC 60050-113:2011 Международный электротехнический словарь - Часть 113: Физика для электротехнологий
  • IEC 60050-55:1970 Международный электротехнический словарь. Часть 55: Телеграфия и телефония

DIN IEC/TS 62132-9:2015 История

  • 2015 DIN IEC/TS 62132-9:2015 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 9. Измерение устойчивости к излучению. Метод поверхностного сканирования (IEC/TS 62132-9:2014).
  • 2012 DIN IEC/TS 62132-9:2012 Интегральные схемы. Измерение устойчивости к электромагнитному излучению. Часть 9. Измерение устойчивости к излучению. Метод поверхностного сканирования (IEC 47A/887/CD:2012).



© 2023. Все права защищены.