ISO 20411:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод коррекции насыщенной интенсивности при динамическом масс-спектрометрии вторичных ионов с подсчетом одиночных ионов.

Стандартный №: ISO 20411:2018
Дата публикации: 2018
Разместил: International Organization for Standardization (ISO)
Последняя версия: ISO 20411:2018

сфера применения: В этом документе определен метод определения максимальной скорости счета для приемлемого предела отклонения от линейности шкалы интенсивности в импульсных магнитно-секторных масс-спектрометрах вторичных ионов или квадрупольных масс-спектрометрах вторичных ионов. Он использует тест, основанный на анализе профиля глубины двух изотопов в эталонном материале, который имеет постепенное изменение концентрации между режимами низкой и высокой концентрации. Он также включает метод коррекции насыщенной интенсивности, вызванной мертвым временем детектора. Коррекция может увеличить диапазон интенсивности до 95 % линейности, так что можно будет использовать более высокую максимальную скорость счета для тех спектрометров, для которых было доказано, что соответствующие уравнения коррекции действительны. Настоящий документ не распространяется на времяпролетные масс-спектрометры. Этот документ применим только к элементам с минорными изотопами. Он неприменим, если элемент моноизотопен или содержит изотопы с одинаковым содержанием.

ISO 20411:2018 Ссылочный документ

ISO 18115-1:2013 Химический анализ поверхности.Словарь.Часть 1: Общие термины и термины, используемые в спектроскопии.
ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.

ISO 20411:2018 История

2018 ISO 20411:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Метод коррекции насыщенной интенсивности при динамическом масс-спектрометрии вторичных ионов с подсчетом одиночных ионов.