GB/T 36477-2018
Полупроводниковая интегральная схема. Методы измерения флэш-памяти. (Англоязычная версия)

Стандартный №

GB/T 36477-2018

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2018

Разместил

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Последняя версия

GB/T 36477-2018

сфера применения

Этот стандарт определяет основные методы тестирования электрических параметров, временных параметров и функций ячеек памяти полупроводниковых интегральных схем флэш-памяти. Настоящий стандарт распространяется на тестирование электрических параметров, временных параметров и функций ячеек флэш-памяти в области полупроводниковых интегральных схем.

GB/T 36477-2018 Ссылочный документ

• GB/T 17574-1998 Полупроводниковые приборы. Интегральные схемы. Часть 2. Цифровые интегральные схемы

GB/T 36477-2018 История

• 2018 GB/T 36477-2018 Полупроводниковая интегральная схема. Методы измерения флэш-памяти.