BS ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность по пределам обнаружения элементов в однородных материалах
ISO 10810:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по анализу
ISO 11843-6:2013 Способность обнаружения. Часть 6. Методика определения критического значения и минимального обнаруживаемого значения в измерениях с распределением Пуассона с помощью нормальных приближений.
ISO 18115-1:2013 Химический анализ поверхности.Словарь.Часть 1: Общие термины и термины, используемые в спектроскопии.
ISO 18115-2:2013 Химический анализ поверхности. Словарь. Часть 2. Термины, используемые в сканирующей зондовой микроскопии.
ISO 18118:2015 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
BS ISO 19668:2017 История
2017BS ISO 19668:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Оценка и отчетность по пределам обнаружения элементов в однородных материалах