IEC 62496-2:2017 Оптические платы. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 2. Общее руководство по определению условий измерения оптических характеристик оптических плат.

сфера применения: Эта часть IEC 62496 определяет метод определения условий измерения оптических характеристик оптических плат. Этот метод включает использование справочных таблиц кодов для идентификации различных критических аспектов среды измерения. Значения, извлеченные из таблиц, используются для построения идентификационного кода измерения, который сам по себе фиксирует достаточную информацию об условиях измерения, чтобы обеспечить согласованность независимо измеренных результатов в пределах допустимого диапазона. Рекомендуемые условия измерения указаны для минимизации дальнейших отклонений в результатах независимых измерений.

IEC 62496-2:2017 Ссылочный документ

IEC 61300-1:2016 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 1. Общие сведения и рекомендации.
IEC 61300-3-53:2015 Волоконно-оптические соединительные устройства и пассивные компоненты. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 3-53. Исследования и измерения. Метод измерения окружного углового потока (EAF), основанный на двумерных данных в дальней зоне из ступенчатого индекса multimo.
IEC 62496-2-1:2011 Оптические платы. Часть 2-1. Измерения. Оптическое затухание и изоляция.
IEC 62614:2010 Волоконная оптика. Требования к условиям запуска для измерения многомодового затухания

2017 IEC 62496-2:2017 Оптические платы. Основные процедуры испытаний и измерений. Часть 2. Общее руководство по определению условий измерения оптических характеристик оптических плат.