IEC 60147-3:1970
Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 3: Эталонные методы измерения

Стандартный №

IEC 60147-3:1970

Дата публикации

1970

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

снять со счета

Последняя версия

IEC 60147-3:1970

заменить на

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-3:1970 История

• 1970 IEC 60147-3:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 3: Эталонные методы измерения

IEC 60147-3:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 3: Эталонные методы измерения было изменено на IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды..

IEC 60147-3:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 3: Эталонные методы измерения было изменено на IEC 60747-1:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 1: Общие сведения.

IEC 60147-3:1970 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 3: Эталонные методы измерения было изменено на IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры.