IEC 60147-2:1963
Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2. Общие принципы методов измерения.

Стандартный №

IEC 60147-2:1963

Дата публикации

1963

Разместил

International Electrotechnical Commission (IEC)

состояние

снять со счета

Последняя версия

IEC 60147-2:1963

заменить на

IEC 60747-2:1983 IEC 60747-1:1983 IEC 60747-6:1983

IEC 60147-2:1963 История

• 1963 IEC 60147-2:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2. Общие принципы методов измерения.

IEC 60147-2:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2. Общие принципы методов измерения. было изменено на IEC 60747-2:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 2. Выпрямительные диоды..

IEC 60147-2:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2. Общие принципы методов измерения. было изменено на IEC 60747-1:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 1: Общие сведения.

IEC 60147-2:1963 Основные номиналы и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы методов измерений. Часть 2. Общие принципы методов измерения. было изменено на IEC 60747-6:1983 Полупроводниковые приборы. Дискретные устройства. Часть 6: Тиристоры.