GB/T 32188-2015
Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки GaN (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 32188-2015
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2015
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 32188-2015
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет метод измерения полувысоты кривой качания монокристаллической подложки из нитрида галлия с использованием двухкристаллического рентгеновского дифрактометра. Настоящий стандарт распространяется на монокристаллические подложки нитрида галлия, выращенные методом химического осаждения из паровой фазы и другими методами.
GB/T 32188-2015 Ссылочный документ
- GB/T 14264 Полупроводниковые материалы. Термины и определения
GB/T 32188-2015 История
- 2015 GB/T 32188-2015 Метод испытания полной ширины на половине высоты двойной кристаллической рентгеновской кривой качания монокристаллической подложки GaN
