TIS 1765-1999
Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения пластинкой, стремечкой или кольцом.

Стандартный №

TIS 1765-1999

Дата публикации

2001

Разместил

TH-TISI

Последняя версия

TIS 1765-1999

TIS 1765-1999 История

• 2001 TIS 1765-1999 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения пластинкой, стремечкой или кольцом.