GJB 8152-2013
Метод измерения временного профиля субнаносекундного лазерного импульса с помощью стрик-камеры (Англоязычная версия)

Стандартный №

GJB 8152-2013

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2013

Разместил

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department

Последняя версия

GJB 8152-2013

сфера применения

Настоящий стандарт определяет методы измерения, процедуры и требования к измерению формы сигналов лазерного импульса с помощью стрикальной камеры. Настоящий стандарт применяется к измерению сигналов лазерных импульсов с частотой повторения не более 15 Гц, диапазоном длин волн 300–1200 нм и длительностью 100 пс–1 нс.

GJB 8152-2013 История

• 2013 GJB 8152-2013 Метод измерения временного профиля субнаносекундного лазерного импульса с помощью стрик-камеры