SJ/T 11498-2015 Метод испытаний для измерения загрязнения кислородом сильнолегированных кремниевых подложек методом вторичной ионной масс-спектрометрии (Англоязычная версия)
Настоящий стандарт определяет метод определения общей концентрации кислорода в монокристалле сильнолегированной кремниевой подложки с помощью масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS). Настоящий стандарт применим к легирующим концентрациям бора, сурьмы, мышьяка и фосфора.
SJ/T 11498-2015 История
2015SJ/T 11498-2015 Метод испытаний для измерения загрязнения кислородом сильнолегированных кремниевых подложек методом вторичной ионной масс-спектрометрии