SJ/T 11487-2015
Бесконтактный метод измерения удельного сопротивления полуизолирующих полупроводниковых пластин (Англоязычная версия)

Стандартный №

SJ/T 11487-2015

язык

Китайский, Доступно на английском

Дата публикации

2015

Разместил

Professional Standard - Electron

Последняя версия

SJ/T 11487-2015

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод бесконтактного измерения удельного сопротивления полуизолирующих полупроводниковых пластин. Настоящий стандарт применим для измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов с высоким сопротивлением, таких как полуизолирующий арсенид галлия, фосфид индия и карбид кремния.Диапазон измерения удельного сопротивления составляет 10 Ом·см~10 Ом·см.

SJ/T 11487-2015 История

• 2015 SJ/T 11487-2015 Бесконтактный метод измерения удельного сопротивления полуизолирующих полупроводниковых пластин