GB/T 30653-2014
Метод испытания кристаллического качества эпитаксиальных слоев Ⅲ-нитрида (Англоязычная версия)
- Стандартный №
- GB/T 30653-2014
- язык
- Китайский, Доступно на английском
- Дата публикации
- 2014
- Разместил
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Последняя версия
- GB/T 30653-2014
- сфера применения
- Настоящий стандарт определяет метод проверки качества кристаллов эпитаксиальных пластин III-нитрида с помощью рентгеновского дифрактометра высокого разрешения. Настоящий стандарт распространяется на испытания качества кристаллизации однослойных или многослойных гетерогенных эпитаксиальных пластин нитридов (Ga, In, Al)N. Проверка качества кристаллов других гетерогенных эпитаксиальных пластин также может соответствовать этому стандарту.
GB/T 30653-2014 История
- 2014 GB/T 30653-2014 Метод испытания кристаллического качества эпитаксиальных слоев Ⅲ-нитрида
