KS L 1620-2013
Методы испытаний для измерения удельного сопротивления тонких электропроводящих керамических пленок методом Ван дер Пау

Стандартный №

KS L 1620-2013

Дата публикации

2013

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

снять со счета

быть заменен

KS L 1620-2013(2018)

Последняя версия

KS L 1620-2013(2018)

заменять

KS L 1620-2003

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод испытания удельного сопротивления тонких проводящих керамических пленок методом Ван дер Пау. Диапазон применимого удельного сопротивления составляет от 1×10-5 Омсм до 1×102 Омсм.

KS L 1620-2013 История

• 0000 KS L 1620-2013(2018)
• 2013 KS L 1620-2013 Методы испытаний для измерения удельного сопротивления тонких электропроводящих керамических пленок методом Ван дер Пау
• 2003 KS L 1620-2003 Методы испытаний для измерения удельного сопротивления тонких электропроводящих керамических пленок методом Ван дер Пау