KS L 1619-2013
Методы испытания удельного сопротивления тонких проводящих керамических пленок с помощью четырехточечной матрицы датчиков

Стандартный №

KS L 1619-2013

Дата публикации

2013

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

снять со счета

быть заменен

KS L 1619-2013(2018)

Последняя версия

KS L 1619-2013(2018)

заменять

KS L 1619-2003

сфера применения

Настоящий стандарт определяет метод испытания удельного сопротивления тонких керамических пленок четырехзондовым методом. Диапазон применимого удельного сопротивления составляет от 1×10-5 Омсм до 2×102 Омсм, а толщина пленки составляет 500 мкм или менее.

KS L 1619-2013 История

• 0000 KS L 1619-2013(2018)
• 2013 KS L 1619-2013 Методы испытания удельного сопротивления тонких проводящих керамических пленок с помощью четырехточечной матрицы датчиков
• 2003 KS L 1619-2003 Методы испытаний для измерения удельного сопротивления электропроводящих тонких керамических пленок четырехточечным методом