KS D ISO 9220:2009
Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа

Стандартный №

KS D ISO 9220:2009

Дата публикации

2009

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS D ISO 9220-2009(2017)

Последняя версия

KS D ISO 9220-2009(2022)

заменять

KS D ISO 9220:1999

сфера применения

Этот стандарт измеряет локальную толщину слоя покрытия путем наблюдения за поперечным сечением металлического покрытия с помощью сканирующего электронного микроскопа (СЭМ).

KS D ISO 9220:2009 История

• 0000 KS D ISO 9220-2009(2022)
• 0000 KS D ISO 9220-2009(2017)
• 2009 KS D ISO 9220:2009 Металлические покрытия－Измерение толщины покрытия－Метод сканирующего электронного микроскопа
• 0000 KS D ISO 9220:1999