KS D 8519-2009
Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.

Стандартный №

KS D 8519-2009

Дата публикации

2009

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

снять со счета

быть заменен

KS D 8519-2009(2015)

Последняя версия

KS D 8519-2009(2015)

заменять

KS D 8519-1999

сфера применения

В этом стандарте используется оптический микроскоп для исследования поперечных сечений испытуемых образцов под микроскопом, чтобы определить наличие металлического покрытия, оксидного слоя или поверхностного слоя.

KS D 8519-2009 История

• 0000 KS D 8519-2009(2015)
• 2009 KS D 8519-2009 Металлические и оксидные покрытия. Измерение толщины покрытия. Микроскопический метод.
• 0000 KS D 8519-1999