KS C IEC 60749-9:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки. - Стандарты и спецификации PDF

KS C IEC 60749-9:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.

Стандартный №
KS C IEC 60749-9:2003
Дата публикации
2003
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние
быть заменен
KS C IEC 60749-9:2020
Последняя версия
KS C IEC 60749-9:2020
сфера применения
Целью настоящего стандарта является удаление остатков паяльного флюса из процесса сборки печатной платы.

KS C IEC 60749-9:2003 История

  • 2020 KS C IEC 60749-9:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.
  • 2003 KS C IEC 60749-9:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 9. Устойчивость маркировки.



© 2023. Все права защищены.