KS C IEC 60749-8:2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация.
Стартовая страница
KS C IEC 60749-8:2006
Стандартный №
KS C IEC 60749-8:2006
Дата публикации
2006
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние
быть заменен
быть заменен
KS C IEC 60749-8-2006(2016)
Последняя версия
KS C IEC 60749-8-2006(2021)
сфера применения
Настоящий стандарт применим к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам, интегральным схемам).
KS C IEC 60749-8:2006 История
0000
KS C IEC 60749-8-2006(2021)
0000
KS C IEC 60749-8-2006(2016)
2006
KS C IEC 60749-8:2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 8. Герметизация.
© 2023. Все права защищены.