KS C IEC 60749-6:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре. - Стандарты и спецификации PDF

KS C IEC 60749-6:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.

Стандартный №
KS C IEC 60749-6:2004
Дата публикации
2004
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние
быть заменен
KS C IEC 60749-6:2020
Последняя версия
KS C IEC 60749-6:2020
сфера применения
Этот стандарт определяет, что все полупроводниковые электрические устройства могут храниться при высоких температурах без применения электрического напряжения.

KS C IEC 60749-6:2004 История

  • 2020 KS C IEC 60749-6:2020 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.
  • 2004 KS C IEC 60749-6:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 6. Хранение при высокой температуре.



© 2023. Все права защищены.