KS C IEC 60749-31:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная).
Настоящий стандарт применим к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам).
KS C IEC 60749-31:2006 История
0000 KS C IEC 60749-31-2006(2021)
0000 KS C IEC 60749-31-2006(2016)
2006KS C IEC 60749-31:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 31. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внутренне наведенная).