KS C IEC 60749-22:2004
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 22. Прочность связи.

Стандартный №

KS C IEC 60749-22:2004

Дата публикации

2004

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

снять со счета

быть заменен

KS C IEC 60749-22:2020

Последняя версия

KS C IEC 60749-22:2020

сфера применения

Настоящий стандарт применим к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам).

KS C IEC 60749-22:2004 История

• 2020 KS C IEC 60749-22:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 22. Прочность соединения.
• 2004 KS C IEC 60749-22:2004 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 22. Прочность связи.