KS C IEC 60749-1:2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения.
Стартовая страница
KS C IEC 60749-1:2006
Стандартный №
KS C IEC 60749-1:2006
Дата публикации
2006
Разместил
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
состояние
быть заменен
быть заменен
KS C IEC 60749-1-2006(2016)
Последняя версия
KS C IEC 60749-1-2006(2021)
сфера применения
Этот стандарт применим к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам) и соответствует серии IEC 60749.
KS C IEC 60749-1:2006 История
0000
KS C IEC 60749-1-2006(2021)
0000
KS C IEC 60749-1-2006(2016)
2006
KS C IEC 60749-1:2006
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 1. Общие положения.
© 2023. Все права защищены.