BS PD IEC/TS 62132-9:2014
Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Метод сканирования поверхности

Стандартный №

BS PD IEC/TS 62132-9:2014

Дата публикации

2014

Разместил

British Standards Institution (BSI)

Последняя версия

BS PD IEC/TS 62132-9:2014

BS PD IEC/TS 62132-9:2014 Ссылочный документ

• IEC 60050 Поправка 3 – Международный электротехнический словарь (IEV) – Часть 904: Экологическая стандартизация электрических и электронных продуктов и систем*， 2019-10-17 Обновление
• IEC 61967-6 Интегральные схемы. Измерение электромагнитных излучений в диапазоне от 150 кГц до 1 ГГц. Часть 6. Измерение кондуктивных излучений. Метод магнитного зонда.*， 2023-11-08 Обновление
• IEC 62132-1 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Часть 1. Общие условия и определения.*， 2015-10-29 Обновление
• IEC TR 61967-1-1 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 1-1. Общие условия и определения. Формат обмена данными сканирования ближнего поля.*， 2015-08-28 Обновление
• IEC TS 61967-3 Интегральные схемы. Измерение электромагнитного излучения. Часть 3. Измерение излучаемого излучения. Метод поверхностного сканирования.

BS PD IEC/TS 62132-9:2014 История

• 2014 BS PD IEC/TS 62132-9:2014 Интегральные схемы. Измерение электромагнитной устойчивости. Измерение радиационной невосприимчивости. Метод сканирования поверхности