Настоящий международный стандарт устанавливает требования к измерению спектральной чувствительности как линейных, так и нелинейных фотоэлектрических устройств. Это применимо только к однопереходным устройствам. Спектральная чувствительность фотоэлектрического устройства используется при разработке клеток и клеточном анализе, поскольку она позволяет измерить рекомбинацию и другие процессы, происходящие внутри системы полупроводника или клеточного материала. Спектральная чувствительность фотоэлектрического устройства используется для коррекции спектрального несоответствия, если фотоэлектрическое устройство калибруется в установке, где спектр измерения отличается от эталонных данных спектральной освещенности, приведенных в IEC 60904-3, и эталонного устройства с другим используется спектральная чувствительность тестируемого устройства. Эта процедура описана в IEC 60904-7.
IEC 60904-8:2014 Ссылочный документ
IEC 60904-3:2008 Фотоэлектрические устройства. Часть 3. Принципы измерения наземных фотоэлектрических (PV) солнечных устройств с использованием эталонных данных о спектральном излучении.
IEC 60904-7:2008 Фотоэлектрические устройства. Часть 7. Расчет поправки на спектральное несоответствие для измерений фотоэлектрических устройств.
IEC 60904-9:2007 Фотоэлектрические устройства. Часть 9. Требования к производительности солнечного симулятора
IEC 61215:2005 Наземные фотоэлектрические (PV) модули из кристаллического кремния. Квалификация конструкции и одобрение типа
IEC 61646:2008 Тонкопленочные наземные фотоэлектрические (PV) модули. Квалификация конструкции и одобрение типа
ISO/IEC 17025:2005 Общие требования к компетентности испытательных и калибровочных лабораторий