5.1 Это чувствительный, бесконтактный и неразрушающий метод измерения толщины покрытия (а в некоторых случаях и состава покрытия) металлических и некоторых неметаллических покрытий в диапазоне толщин от 0,01 & От #x03bc;м до 75 мкм в зависимости от материала покрытия и подложки. Его можно использовать для измерения комбинаций покрытия и основы, которые невозможно измерить другими методами. 5.2 Толщина покрытия является важным фактором, влияющим на эксплуатационные характеристики покрытия в процессе эксплуатации. 1.1. Этот метод испытаний охватывает использование рентгеновской спектрометрии для определения толщины металлических и некоторых неметаллических покрытий. 1.2. Максимально измеряемая толщина для данного покрытия - это такая толщина, за пределами которой интенсивность характеристического вторичного рентгеновского излучения от покрытия или подложки больше не чувствительна к небольшим изменениям толщины. 1.3. В этом методе испытаний измеряется масса покрытия на единицу площади, которая также может быть выражена в единицах линейной толщины при условии, что известна плотность покрытия. 1.4. Проблемы защиты персонала от излучений, образующихся в рентгеновской трубке или исходящих от радиоизотопного источника, не рассматриваются настоящим методом испытаний. Для получения информации по этому важному аспекту следует обратиться к текущим документам Национального комитета по радиационной защите и измерениям, Федерального регистра, Комиссии по ядерному регулированию, Национального института стандартов и технологий (ранее Национального бюро стандартов), а также к государственным и местные нормы, если таковые существуют. 1.5. Настоящий стандарт не претендует на решение всех проблем безопасности, если таковые имеются, связанных с его использованием. Пользователь настоящего стандарта несет ответственность за установление соответствующих мер безопасности и охраны труда и определение применимости нормативных ограничений перед использованием.
ASTM B568-98(2014) Ссылочный документ
ASTM E135 Стандартная терминология, относящаяся к аналитической химии металлов, руд и родственных материалов*, 1999-11-08 Обновление