Этот стандарт определяет требования к характеристикам измерений, общие технические требования, условия калибровки, элементы калибровки и методы калибровки курсорных тестовых систем с IC-картами. Настоящий стандарт распространяется на первоначальную калибровку, последующую калибровку и проверку в процессе использования курсорной испытательной системы с IC-картой.