В этом документе в первую очередь рассматривается внутренняя надежность электронных компонентов, используемых в автомобильной электронике. Там, где это практически осуществимо, будут также рассмотрены методы обнаружения и предотвращения внешней надежности. Настоящее руководство в первую очередь посвящено темам, связанным с интегральными схемами, но его можно легко адаптировать для использования при квалификации дискретных или пассивных устройств с созданием списка механизмов отказа, относящихся к этим компонентам. Квалификация полупроводниковых устройств является основной темой настоящего руководства. Другие процедуры, направленные на устранение внешних дефектов, особо упоминаются в главе о мониторинге. Стремление к цели нулевого дефекта
SAE J1879-2014 История
2014SAE J1879-2014 Справочник по проверке устойчивости полупроводниковых приборов в автомобильной промышленности
2007SAE J1879-2007 Справочник по проверке устойчивости полупроводниковых приборов в автомобильной промышленности
1988SAE J1879-1988 Общие критерии квалификации и приемки производства интегральных микросхем в автомобильной промышленности