GB/T 8015.2-1987 Методы определения толщины анодно-оксидных покрытий на алюминии и алюминиевых сплавах. Метод расщепленного лучевого микроскопа. (Англоязычная версия)
Настоящий стандарт применим для определения толщины анодированной пленки на алюминии и изделиях из алюминиевых сплавов. Настоящий стандарт не применим к измерениям специальных пленок (таких как темные оксидные пленки) и пленок с шероховатой подложкой образца. В обычных промышленных условиях можно измерить пленки толщиной более 10 мкм. Когда поверхность гладкая, также можно измерить оксидную пленку толщиной 5–10 мкм.
GB/T 8015.2-1987 История
2005GB/T 8014.3-2005 Анодирование алюминия и его сплавов. Метод измерения толщины анодно-оксидных покрытий. Часть 3: Метод расщепленного лучевого микроскопа.
1987GB/T 8015.2-1987 Методы определения толщины анодно-оксидных покрытий на алюминии и алюминиевых сплавах. Метод расщепленного лучевого микроскопа.
GB/T 8015.2-1987 Методы определения толщины анодно-оксидных покрытий на алюминии и алюминиевых сплавах. Метод расщепленного лучевого микроскопа. было изменено на GB/T 8014.3-2005 Анодирование алюминия и его сплавов. Метод измерения толщины анодно-оксидных покрытий. Часть 3: Метод расщепленного лучевого микроскопа..