DS/EN 62047-11:2013 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 11. Метод определения коэффициентов линейного теплового расширения отдельных материалов для микроэлектромеханических систем.
IEC 62047-11:2013 определяет метод испытаний для измерения коэффициентов линейного теплового расширения (CLTE) тонких отдельно стоящих твердых (металлических, керамических, полимерных и т. д.) материалов микроэлектромеханических систем (MEMS) длиной от 0 ,1 мм и 1 мм а
DS/EN 62047-11:2013 История
2013DS/EN 62047-11:2013 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 11. Метод определения коэффициентов линейного теплового расширения отдельных материалов для микроэлектромеханических систем.