KS C IEC 60749-4:2003
Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное стресс-тест (HAST).

Стандартный №

KS C IEC 60749-4:2003

Дата публикации

2003

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS C IEC 60749-4:2020

Последняя версия

KS C IEC 60749-4:2020

сфера применения

Целью этого стандарта является оценка надежности негерметизированных полупроводниковых приборов в корпусе во влажной среде.

KS C IEC 60749-4:2003 История

• 2020 KS C IEC 60749-4:2020 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное испытание под нагрузкой (HAST).
• 2003 KS C IEC 60749-4:2003 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 4. Влажное тепло, стационарное состояние, высокоускоренное стресс-тест (HAST).