KS C IEC 60749-32:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение).
Настоящий стандарт применим к полупроводниковым устройствам (дискретным устройствам и интегральным схемам).
KS C IEC 60749-32:2006 История
2021KS C IEC 60749-32:2021 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение)
0000 KS C IEC 60749-32-2006(2016)
2006KS C IEC 60749-32:2006 Полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 32. Воспламеняемость устройств в пластиковых капсулах (внешнее наведение).