KS C IEC 60749-3:2002
Дискретные полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.

Стандартный №

KS C IEC 60749-3:2002

Дата публикации

2002

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS C IEC 60749-3:2019

Последняя версия

KS C IEC 60749-3:2021

сфера применения

Этот стандарт определяет материалы, конструкцию, структуру, маркировку и операции отделки, применимые к полупроводниковым устройствам.

KS C IEC 60749-3:2002 История

• 2021 KS C IEC 60749-3:2021 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
• 2019 KS C IEC 60749-3:2019 Приборы полупроводниковые. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр
• 2002 KS C IEC 60749-3:2002 Дискретные полупроводниковые приборы. Механические и климатические методы испытаний. Часть 3. Внешний визуальный осмотр.