KS I 0051-1999
Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

Стандартный №

KS I 0051-1999

Дата публикации

1999

Разместил

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

состояние

быть заменен

быть заменен

KS I 0051-1999(2019)

Последняя версия

KS I 0051-1999(2019)

заменять

M0044

сфера применения

Этот стандарт использует сканирующую электронную микроскопию и исследует мельчайшие части поверхности образца, главным образом, с помощью вторичных электронов.

KS I 0051-1999 История

• 0000 KS I 0051-1999(2019)
• 1999 KS I 0051-1999 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии