DS/EN 61788-17:2013
Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

Стандартный №

DS/EN 61788-17:2013

Дата публикации

2013

Разместил

Danish Standards Foundation

Последняя версия

DS/EN 61788-17:2013

сфера применения

В стандарте IEC 61788-17:2013 описываются измерения локальной критической плотности тока (Jc) и ее распределения в пленках высокотемпературных сверхпроводников (ВТСП) большой площади индуктивным методом с использованием напряжения третьей гармоники. Самое важное соображение

DS/EN 61788-17:2013 История

• 2021 DS/EN IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
• 2013 DS/EN 61788-17:2013 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.