ISO/TS 17915:2013 Оптика и фотоника. Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования.

сфера применения: В данной технической спецификации описаны методы измерения температуры, зависимости инжектируемого тока и ширины спектральной линии генерации применительно к полупроводниковым лазерам для сенсорных приложений. Настоящие технические спецификации применимы ко всем видам полупроводниковых лазеров, таких как лазеры с торцевым излучением и лазеры с поверхностным излучением с вертикальным резонатором, лазеры с объемными и (напряженными) квантовыми ямами, а также лазеры с квантовыми каскадами, используемые для оптического зондирования, например, в промышленности, медицинской и сельскохозяйственной сферах. Данная техническая спецификация представляет собой применение стандарта ISO 13695, в котором объясняются физические основы.

ISO/TS 17915:2013 Ссылочный документ

ISO 13695 Оптика и фотоника. Лазеры и лазерное оборудование. Методы испытаний спектральных характеристик лазеров.

2013 ISO/TS 17915:2013 Оптика и фотоника. Метод измерения полупроводниковых лазеров для зондирования.