"Эта часть IEC 60444 применяется к измерениям зависимости уровня возбуждения (DLD) кварцевых кристаллов. Описаны два метода испытаний (A и C) и один эталонный метод (B). ""Метод A""@, основанный на ??Сеть в соответствии с IEC 60444-1@ может использоваться во всем частотном диапазоне, охватываемом настоящей частью IEC 60444. «Опорный метод B»»@ основан на ?? сети или методе отражения в соответствии с IEC 60444-1@. МЭК 60444-5 или МЭК 60444-8 могут использоваться во всем диапазоне частот, охватываемом настоящей частью МЭК 60444. «Метод C»» @ метод генератора @ подходит для измерений кварцевых модулей основной моды в больших количествах с фиксированными условия."
IEC 60444-6:2013 История
0000 IEC 60444-6:2021 RLV
2013IEC 60444-6:2013 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 6. Измерение зависимости уровня возбуждения (DLD)
1995IEC 60444-6:1995 Измерение параметров кварцевого кристалла. Часть 6. Измерение зависимости уровня возбуждения (DLD)