DS/EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур. - Стандарты и спецификации PDF

DS/EN 62047-13:2012
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур.

Стандартный №
DS/EN 62047-13:2012
Дата публикации
2012
Разместил
Danish Standards Foundation
Последняя версия
DS/EN 62047-13:2012
сфера применения
IEC 62047-13:2012 определяет метод испытания адгезии между микроразмерными элементами и подложкой с использованием столбчатой формы образцов. Этот международный стандарт может применяться для измерения прочности сцепления микроструктур, приготовленных на

DS/EN 62047-13:2012 История

  • 2012 DS/EN 62047-13:2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур.



© 2023. Все права защищены.