YS/T 839-2012 Метод испытаний для измерения толщины изолятора и показателя преломления на кремниевых подложках методом эллипсометрии (Англоязычная версия)
Этот метод определяет метод измерения толщины и показателя преломления диэлектрических пленок, выращенных или нанесенных на кремниевые подложки, методом эллипсометрии. Этот метод подходит для измерения толщины и показателя преломления изоляционных пленок, если пленка не поглощает тестовую длину волны, а подложка непрозрачна для тестовой длины волны, а показатель преломления и коэффициент затухания подложки на тестовой длине волны известны. . Для неизоляционных пленок этот метод можно использовать только при соблюдении определенных условий.
YS/T 839-2012 История
2012YS/T 839-2012 Метод испытаний для измерения толщины изолятора и показателя преломления на кремниевых подложках методом эллипсометрии