IEC 61788-17:2013
Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
- Стандартный №
- IEC 61788-17:2013
- Дата публикации
- 2013
- Разместил
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- состояние
- быть заменен
- IEC 61788-17:2021 RLV
- Последняя версия
- IEC 61788-17:2021 RLV
- заменять
- IEC 90/310/FDIS:2012
- сфера применения
- В этой части IEC 61788 описываются измерения локальной критической плотности тока (Jc) и ее распределения в пленках высокотемпературного сверхпроводника (ВТСП) большой площади индуктивным методом с использованием напряжения третьей гармоники. Важнейшим соображением для точных измерений является определение Jc при температурах жидкого азота по электрическо-полевому критерию и получение вольт-амперных характеристик по его частотной зависимости. Хотя возможно измерение Jc в приложенных магнитных полях постоянного тока [20@ 21]2@, область применения настоящего стандарта ограничена измерениями без магнитных полей постоянного тока. Этот метод по существу измеряет критический ток слоя, который является произведением Jc и толщины пленки d. Диапазон и разрешение измерения Jcd ВТСП-пленок следующие: ?C Jcd: от 200 А/м до 32 кА/м (на основе результатов, без ограничений); ?C Разрешение измерения: 100 А/м (по результатам, без ограничений).
IEC 61788-17:2013 История
- 0000 IEC 61788-17:2021 RLV
- 2013 IEC 61788-17:2013 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.
