LST EN 62047-13-2012
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (IEC 62047-13:2012)

Стандартный №

LST EN 62047-13-2012

Дата публикации

2012

Разместил

Lithuanian Standards Office

Последняя версия

LST EN 62047-13-2012

LST EN 62047-13-2012 История

• 2012 LST EN 62047-13-2012 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 13. Методы испытаний на изгиб и сдвиг для измерения прочности сцепления для МЭМС-структур (IEC 62047-13:2012)