ISO 11505:2012
Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.
- Стандартный №
- ISO 11505:2012
- Дата публикации
- 2012
- Разместил
- International Organization for Standardization (ISO)
- Последняя версия
- ISO 11505:2012
- сфера применения
- Настоящий международный стандарт описывает метод оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда (GD-OES) для определения толщины, массы на единицу площади и химического состава пленок поверхностного слоя. Он ограничен описанием общих процедур количественного определения GD-OES и не применим непосредственно для количественного определения отдельных материалов, имеющих различную толщину и определяемые элементы. П р и м е ч а н и е — Любой отдельный стандарт на испытуемый материал должен указывать диапазон толщины поверхностного слоя, а также аналитических элементов и включать результаты межлабораторных испытаний для валидации методов.
ISO 11505:2012 История
- 2012 ISO 11505:2012 Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.
