LST EN 62047-12-2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур (IEC 62047-12:2011) - Стандарты и спецификации PDF

LST EN 62047-12-2011
Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур (IEC 62047-12:2011)

Стандартный №
LST EN 62047-12-2011
Дата публикации
2011
Разместил
Lithuanian Standards Office
Последняя версия
LST EN 62047-12-2011

LST EN 62047-12-2011 История

  • 2011 LST EN 62047-12-2011 Полупроводниковые приборы. Микроэлектромеханические устройства. Часть 12. Метод испытаний тонкопленочных материалов на усталость при изгибе с использованием резонансной вибрации МЭМС-структур (IEC 62047-12:2011)



© 2023. Все права защищены.